特許

J-GLOBAL ID：200903080550079045

記憶装置

発明者： 木下 尚志
出願人/特許権者： 日本電気エンジニアリング株式会社
代理人 (1件)： 京本 直樹 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-101820
公開番号（公開出願番号）：特開平8-297998
出願日： 1995年04月26日
公開日（公表日）： 1996年11月12日
要約：

【要約】【目的】 記憶装置単体で記憶素子のテストを行うことができる記憶装置の提供。【構成】 テスト用のデータおよび制御の各信号を発生するテスト用信号発生器3と、テスト用のアドレスを発生するアドレスカウンタ8と、このテスト用信号発生器3とアドレスカウンタ8とで書き込んだデータおよび読み出したデータを比較するデータコンパレータ7とをメモリIC1内に設け、メモリIC1単体で内部のメモリセルアレイ2のテストを行う。

請求項（抜粋）：

データを記憶する記憶素子と、テスト用のアドレス、データおよび制御の各信号を発生する信号発生手段と、この信号発生手段により前記記憶素子に書き込んだデータとそのアドレスから読み出したデータとを比較する比較手段とを含むことを特徴とする記憶装置。