特許
J-GLOBAL ID:200903080561617529
積層セラミックコンデンサー内部電極用ニッケル粉末およびその評価方法
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
鴨田 朝雄
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-147307
公開番号(公開出願番号):特開2000-336401
出願日: 1999年05月26日
公開日(公表日): 2000年12月05日
要約:
【要約】【課題】 低い構造欠陥発生率および静電容量不良率で積層セラミックコンデンサーを製造することができる該コンデンサーの内部電極用ニッケル粉末、並びに該内部電極用の適否について識別性よくニッケル粉末を評価する方法を提供する。【解決手段】 本発明の粉末は、平均粒径(μm)および真密度(g/cm3 )が下記(A)、(B)の2式を満足する。また、本発明の評価方法では、ニッケル粉末の平均粒径(μm)および真密度(g/cm3 )を測定し、次に、得られた測定値が下記(A)、(B)の2式を満足すれば積層セラミックコンデンサー内部電極用に好適と、該(A)、(B)の2式のうちの少なくとも1式を満足しなければ該内部電極用に不適と評価する。0.1≦(平均粒径)≦1.0 (A)真密度≧-0.39×(平均粒径)2 +0.99×(平均粒径)+8.02 (B)
請求項(抜粋):
平均粒径(μm)および真密度(g/cm3 )が下記(A)式および下記(B)式を満足する積層セラミックコンデンサー内部電極用ニッケル粉末。 0.1≦(平均粒径)≦1.0 (A) 真密度≧-0.39×(平均粒径)2 +0.99×(平均粒径)+8.02 (B)
IPC (5件):
B22F 1/00
, G01N 9/36
, H01B 1/00
, H01B 1/22
, H01G 4/12 361
FI (5件):
B22F 1/00 M
, G01N 9/36
, H01B 1/00 F
, H01B 1/22 A
, H01G 4/12 361
Fターム (17件):
4K018BA04
, 4K018BB04
, 4K018BB06
, 4K018BD04
, 4K018KA33
, 4K018KA39
, 5E001AB03
, 5E001AC09
, 5E001AH01
, 5E001AH05
, 5E001AH06
, 5E001AH08
, 5E001AH09
, 5E001AJ01
, 5G301DA10
, 5G301DD01
, 5G301DE01
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