特許
J-GLOBAL ID:200903080581268016

用紙類のしわ検出方法およびしわ検出装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 岡田 和秀
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平7-099344
公開番号(公開出願番号):特開平8-292158
出願日: 1995年04月25日
公開日(公表日): 1996年11月05日
要約:
【要約】【目的】 用紙類表面にしわがいずれの方向に発生しても、そのしわを確実に、かつ短時間の内に検出できるようにする。【構成】 しわ強調処理手段330で画像メモリ320を複数の画素からなる評価ユニットごとに区画して各評価ユニットに含まれる濃淡データに基づいて濃淡差の最大値である濃淡最大差を算出し、この濃淡最大差のデータを画像メモリ320に対応させて構成される二次元のワークメモリに格納する。判定手段340で、評価ユニットの複数個をパターン状に組み合わせた評価ブロックを構成し、これらの各評価ブロックをワークメモリ内の全ての領域を走査しつつ、評価ブロック内に含まれる濃淡最大差の最小値を求め、この最小値を予め設定された良品の限界を決めるしきい値と比較して、最小値がしきい値を越えた場合に、その評価ブロックのパターンと一致する位置にしわがあると判定する。
請求項(抜粋):
用紙類の表面を二次元撮像して得られる該表面上のしわに起因して生じる陰影による濃淡データを画像メモリを構成する複数の画素に個別に対応して格納するステップと、前記画像メモリを構成する所定数の画素について複数の画素からなる評価ユニットの複数をパターン状に組み合わせて複数種類の評価ブロックを構成し、これら評価ブロック毎に前記濃淡データを処理して用紙類の表面上のしわの有無を検出するステップと、を含むことを特徴とする用紙類のしわ検出方法。
IPC (2件):
G01N 21/88 ,  G01B 11/30
FI (2件):
G01N 21/88 Z ,  G01B 11/30 Z

前のページに戻る