特許
J-GLOBAL ID：200903080582850240
画像データの並列演算処理装置
発明者：
出願人/特許権者：
,
代理人 (1件)：
森田 雄一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-103170
公開番号（公開出願番号）：特開平10-293848
出願日： 1997年04月21日
公開日（公表日）： 1998年11月04日
要約：
【要約】【課題】 物体表面の面状の欠陥の有無や位置を高精度かつ高速に検出する。【解決手段】 グローバルメモリとこのメモリにアクセス可能な複数のプロセッサとを有する判定処理ボードを複数形成して各判定処理ボードのグローバルメモリをリング状に接続する。各ボードを構成するプロセッサ数と同数であって連続する複数の連続走査ライン群の測定データを、各ボード内の各プロセッサに順次かつサイクリックに入力して連続走査ライン群につき欠陥有無の判定処理をそれぞれ行い、その判定処理結果を各グローバルメモリに格納する。各グローバルメモリ内の互いに非連続な連続走査ライン群の判定処理結果を各ボードの間で転送することにより、各グローバルメモリに、連続する複数の連続走査ライン群の判定処理結果を格納する。
請求項（抜粋）：
物体表面の観測点からの反射光を撮像して得た複数の輝度値に基づいて前記観測点の欠陥の有無を検査するために、前記観測点を含む一走査ライン分の測定データを並列的に順次個別のプロセッサに入力して各走査ライン分の欠陥の有無を判定する画像データの並列演算処理装置において、グローバルメモリとこのグローバルメモリにアクセス可能な複数のプロセッサとを有する判定処理ボードを複数形成して各判定処理ボードのグローバルメモリをリング状に接続し、前記判定処理ボードを構成するプロセッサの数と同数であって連続する複数の走査ライン(以下、連続走査ライン群という)の測定データを各判定処理ボード内の各プロセッサに順次かつサイクリックに入力して連続走査ライン群につき欠陥有無の判定処理をそれぞれ行うと共に、その判定処理結果を各グローバルメモリに格納し、各グローバルメモリにそれぞれ格納された互いに非連続な連続走査ライン群の判定処理結果を、各判定処理ボードの間で転送することにより、各グローバルメモリに、連続する複数の連続走査ライン群の判定処理結果を格納することを特徴とする画像データの並列演算処理装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G06F 15/62 400
, G06F 15/66 K
