特許

J-GLOBAL ID：200903080645701240

圧痕自動読取り装置の校正方法

発明者： 辻井 正治
出願人/特許権者： 株式会社アカシ
代理人 (1件)： 飯沼 義彦 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-299453
公開番号（公開出願番号）：特開平11-118691
出願日： 1997年10月16日
公開日（公表日）： 1999年04月30日
要約：

【要約】【課題】 テストピースに形成した圧痕の対角線長さの読取り値に基づいて当該テストピースの硬さを計測する際の精度向上をはかる。【解決手段】 テストピースに、試験荷重を変えて対角線長さD1=25ミクロン,D2=50ミクロン,D3=75ミクロン,D4=100ミクロンの4個の圧痕を形成し、各圧痕の各対角線長さD1〜D4とこれらに対応する圧痕自動読取り装置の表示値a〜dとに基づいて、表示値Hvと対角線長さDとの関係を示す函数Hv=f(D)をコンピュータで演算し、この函数により圧痕読取り値を校正することにより、硬さ試験機の精度向上を可能にした。

請求項（抜粋）：

対角線長さDの圧痕を形成された硬さHのテストピースの上記圧痕の対角線長さの読取り値に対応する硬さとしてHを表示するように自動読取り装置を校正する校正方法において、上記校正を、上記テストピースに形成された対角線長さの異なる複数の圧痕を対象として行なうことを特徴とする、圧痕自動読取り装置の校正方法。