特許
J-GLOBAL ID：200903080659787317
はんだ付け状態検査装置とはんだ付け状態検査方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
粟野 重孝
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-225422
公開番号（公開出願番号）：特開平6-074719
出願日： 1992年08月25日
公開日（公表日）： 1994年03月18日
要約：
【要約】【目的】 プリント基板のはんだの印刷状態の検査に用いるはんだ付け状態検査装置とその方法において、測定結果のばらつきをなくして安定した測定結果を得るとともに、プログラム作成時間の大幅な時間短縮をはかることを目的とする。【構成】 検査対象のはんだ5に対してレーザー光aを照射するレーザー照射部2と、反射光bを受光し、反射光bの受光強度と受光位置により、検査対象の各点に対応した輝度レベル信号と高低レベル信号を発生する位置検出部3と、これらの電気信号をもとに輝度画像および高低レベル画像を生成し、輝度画像内においてはんだ印刷範囲を抽出し、その境界位置座標を求める画像処理部1を備えた構成により、高低レベル画像内において各境界点における高低レベル値をもとに、検査対象各点に対する高さ測定基準レベルを決定し、各測定点の高低レベルと、その点における高さ測定基準レベルとの差を計算して、はんだの高さ(印刷厚み)を求め、すべての点におけるはんだの高さを積分して、体積量を求めることができる。
請求項（抜粋）：
プリント基板実装のはんだ印刷におけるはんだの印刷状態を測定するはんだ付け状態検査装置において、検査対象のはんだに対してレーザー光を照射するレーザー照射部と、前記レーザー照射部から照射されたレーザー光の反射光を受光して、その反射光の受光強度と受光位置に対応した輝度信号と高低レベル信号の電気信号を発生する位置検出部と、前記電気信号をもとに、前記検査対象のはんだの表面の明るさの分布状態を示す輝度画像と、その輝度画像と同一範囲に対する検査対象のはんだの表面の凹凸の分布状態を示す高低レベル画像を生成し、前記輝度画像に対して、予め指定された輝度条件をもとに、はんだ印刷範囲を抽出し、その境界位置を検出して、前記高低レベル画像に対して、前記境界位置における高低レベル値を、高さ測定基準レベルとして求め、前記高低レベル画像に対し、画像内各点の高低レベル値と、前記高さ測定基準レベル値から、各点におけるはんだの印刷厚みと体積量を算出するようにした画像処理部を備えたはんだ付け状態検査装置。
IPC (3件)：
G01B 11/24
, G01N 21/88
, H05K 3/34
