特許
J-GLOBAL ID：200903080697208037
質量分析方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
岡本 啓三
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-169073
公開番号（公開出願番号）：特開平9-021783
出願日： 1995年07月04日
公開日（公表日）： 1997年01月21日
要約：
【要約】【目的】減圧雰囲気中で被分析物質を昇温させ、発生したガスを質量分析することにより被分析物質を特定する質量分析方法に関し、質量測定点を減らしても確実に物質の質量分析をすることができ、また確実に所望の物質を特定することを目的とする。【構成】既知の物質の質量分析からその物質の質量数に対する質量分析器の指示質量数を求め、この相関関係から内挿或いは外挿により物質の質量数に対応する指示質量数を決定し、その指示質量数のみを前記質量分析器による質量測定点として用いる。
請求項（抜粋）：
既知の物質の質量分析からその物質の質量数に対する質量分析器の指示質量数を求め、この相関関係から内挿或いは外挿により物質の質量数に対応する指示質量数を決定し、その指示質量数のみを前記質量分析器による質量測定点として用いることを特徴とする質量分析方法。
FI (2件)：
G01N 27/62 D
, G01N 27/62 V
