特許
J-GLOBAL ID:200903080698876599
ガストラップ装置、発生ガス分析装置及び発生ガス分析方法
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
田村 敬二郎 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-161605
公開番号(公開出願番号):特開2002-350300
出願日: 2001年05月30日
公開日(公表日): 2002年12月04日
要約:
【要約】【課題】 分析試料を加熱して発生したガスを捕集する際に、低沸点物質から高沸点物質まで沸点に関わりなく捕集できかつ吸着剤をトラップ管に詰め易く製造し易いガストラップ装置を提供する。また、分析試料を加熱して発生したガスを低沸点物質から高沸点物質まで分析できる発生ガス分析装置及び発生ガス分析方法を提供する。【解決手段】 このガストラップ装置は、外部から導入されるガスの入口31aと外部にガスを導出する出口31bとを有するトラップ管31と、ガスを捕集するためにトラップ管の内部に詰め込まれた石英粒子51とを備える。この石英粒子により発生ガスを低沸点物質から高沸点物質まで沸点に関わりなく広範囲に効率的に捕集できる。石英粒子はトラップ管内に詰め込み易く、その好ましい粒径は40〜1000μmの範囲である。
請求項(抜粋):
外部から導入されるガスの入口と外部にガスを導出する出口とを有するトラップ管と、前記ガスを捕集するために前記トラップ管の内部に詰め込まれた石英粒子と、を備えることを特徴とするガストラップ装置。
IPC (5件):
G01N 1/00 101
, G01N 1/22
, G01N 5/04
, G01N 25/20
, G01N 27/62
FI (6件):
G01N 1/00 101 R
, G01N 1/22 L
, G01N 5/04 A
, G01N 25/20 G
, G01N 27/62 C
, G01N 27/62 F
Fターム (34件):
2G040AA02
, 2G040AB05
, 2G040AB11
, 2G040AB12
, 2G040BA23
, 2G040CA05
, 2G040CA16
, 2G040EB02
, 2G040EC09
, 2G040ZA02
, 2G040ZA03
, 2G052AA18
, 2G052AB12
, 2G052AC11
, 2G052AD02
, 2G052AD22
, 2G052AD42
, 2G052BA03
, 2G052BA21
, 2G052CA04
, 2G052CA14
, 2G052CA35
, 2G052DA09
, 2G052EB11
, 2G052EB13
, 2G052ED07
, 2G052ED10
, 2G052GA20
, 2G052GA24
, 2G052GA27
, 2G052HC02
, 2G052HC09
, 2G052HC39
, 2G052JA09
引用特許:
審査官引用 (4件)
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金属中の微量ヘリウム測定方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平11-211253
出願人:三菱重工業株式会社, ニユークリア・デベロップメント株式会社
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気体成分吸着管
公報種別:公開公報
出願番号:特願平9-041649
出願人:スズキ株式会社
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特開昭61-213655
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