特許

J-GLOBAL ID：200903080702795647

高い位置に配置されたサンプル表面を有するチップ

発明者： インダーミュール ピエール エフ ,  ゾウグ フランク ジー ,  ワグナー ピーター ,  ノック ステファン
出願人/特許権者： ザイオミックス インコーポレイテッド
代理人 (1件)： 中村 稔 (外9名)
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-562662
公開番号（公開出願番号）：特表2003-524193
出願日： 2001年02月23日
公開日（公表日）： 2003年08月12日
要約：

【要約】本発明は、非サンプル表面であるベースと、ピラーから成るサンプル構造体を有する試験器具を提供する。本発明の一実施形態であるチップは、非サンプル表面を有するベース(22)と、少なくとも1つの構造体(25(a),25(b))と、を有する。各構造体(25(a),25(b))は、ピラー(20(a),20(b))と、非サンプル表面に対して高い位置に配置されたサンプル表面(24(a),24(b))と、を有する。サンプル表面(24(a),24(b))は、サンプルをディスペンサから受け取るようになっている。

請求項（抜粋）：

チップであって、 a)非サンプル表面を有するベースと、 b)少なくとも1つの構造体と、を有し、各構造体は、ピラーと、非サンプル表面に対して高い位置に配置され且つサンプルをディスペンサから受け取るようになったサンプル表面と、を有していることを特徴とするチップ。

IPC (4件)：

G01N 33/53 ,  G01N 35/04 ,  G01N 35/10 ,  G01N 37/00 102

FI (4件)：

G01N 33/53 D ,  G01N 35/04 F ,  G01N 37/00 102 ,  G01N 35/06 J

Fターム (4件)：

2G058AA09 ,  2G058CC00 ,  2G058ED19 ,  2G058GB10