特許
J-GLOBAL ID：200903080739945452
コネクタ収容端子の導通検査装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
青山 葆 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-049180
公開番号（公開出願番号）：特開平6-258373
出願日： 1993年03月10日
公開日（公表日）： 1994年09月16日
要約：
【要約】【目的】 端子の変形や電気特性の低下を発生させずに導通検査が行えるコネクタの導通検査器を提供する。【構成】 検査すべきコネクタ(11)に、コネクタに収容した端子(4)の電気接触部以外と対向する貫通穴(11b)を穿設する一方、コネクタの外方に貫通穴から差し込んで端子に弾性接触する検査プローブ(12b)を設けて、端子が電線と導通しているか否かを検査する。
請求項（抜粋）：
端子挿入方向と直交する方向から端子収容室に開口する貫通穴をコネクタに穿設する一方、上記貫通穴の外面開口から端子収容室内に差し込んで、端子収容室内に収容している端子に、弾性接触させる検査プローブを備えていることを特徴とするコネクタ収容端子の導通検査装置。
IPC (2件)：
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