渦電流表面測定配列

発明者： , , , , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：生沼徳二
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-111359
公開番号（公開出願番号）：特開平5-142205
出願日： 1992年04月30日
公開日（公表日）： 1993年06月08日
要約：

【要約】 (修正有)【目的】多層の一体化した空間的な相関性を持つプローブ配列を提供する。【構成】渦電流プローブ配列0が、表面近くのきずの非破壊的な検出の為、空間的な相関性を持つ別々の複数個の渦電流測定値を収集するのに十分な程度に、可撓性の相互接続構造内に配置された複数個の空間的な相関性を持つ渦電流プローブ素子4,5で構成される。複数個の精密製造の略同一の素子が十分に分布していることにより、1回の一方向の走査で、配列の有効幅によってカバーされる導体の区域の検査を行なうことが出来る。配列構造は、従来の手段によっては検査することの出来ない大きくて不規則な弯曲した導電面の検査が出来る様に、可撓性を持って同形になることが出来る。

請求項（抜粋）：