特許
J-GLOBAL ID:200903080818520530

塗装品質解析装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 中村 純之助 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平7-141940
公開番号(公開出願番号):特開平8-334320
出願日: 1995年06月08日
公開日(公表日): 1996年12月17日
要約:
【要約】【目的】吹き付け距離が部位によって異なるような被塗装物体であっても塗装中に迅速かつ高精度で基準の吹き付け距離に相当した微粒化度を求めることのできる塗装品質解析装置を提供する。【構成】塗料を塗布した直後の未乾燥塗装表面を撮像手段100(CCDカメラ)で撮像し、その画像情報を画像処理手段101で画像処理した画像処理データに基づいて、波長分布演算手段102で塗装表面の凹凸波形の波長分布を算出する。そして微粒化演算手段103では上記の波長分布に基づいて微粒化度を算出し、補正演算手段105では塗装条件入力手段104から入力した吹き付け距離情報に応じて上記微粒化度を基準吹き付け距離に相当する値に換算することにより、基準吹き付け距離に相当した微粒化度を検出する塗装品質解析装置。
請求項(抜粋):
塗料を塗布した直後の未乾燥塗装表面を撮像する撮像手段と、上記撮像手段からの画像情報を画像処理する画像処理手段と、上記画像処理手段で処理された画像処理データに基づいて、塗装表面の凹凸波形の波長分布を算出する波長分布演算手段と、上記波長分布演算手段の算出結果に基づいて微粒化度を算出する微粒化演算手段と、塗料吹き付け手段と被塗装物表面との間の吹き付け距離を少なくとも含む塗装条件を入力する塗装条件入力手段と、上記微粒化演算手段で算出した微粒化度と上記塗装条件入力手段から入力した吹き付け距離とに基づいて基準吹き付け距離における微粒化度を算出する補正演算手段と、を備えたことを特徴とする塗装品質解析装置。

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