特許
J-GLOBAL ID：200903080829534672
電磁界に対する物体の影響の測定装置
発明者：
,
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
山川 政樹
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-334969
公開番号（公開出願番号）：特開平6-160449
出願日： 1992年11月24日
公開日（公表日）： 1994年06月07日
要約：
【要約】【目的】 電磁界に対する物体の影響を正しくかつ効率よく測定できるようにする。【構成】 電磁界に置かれた被測定金属物体近傍の電磁界分布を測定する場合、その電磁界強度は、小型かつ高入力インピーダンスを有する受信アンテナ13により光信号に変換され光ファイバ7を介してO/E変換器8へ送出される。アナライザ1は、O/E変換器8で変換された電気信号に基づき電磁界強度を測定する。
請求項（抜粋）：
電磁界に置かれた被測定金属物体近傍の電磁界分布を測定する装置において、前記被測定金属物体と、送信アンテナと、小型かつ高い入力インピーダンスを有し電磁界強度に応じた光信号の高速変換出力を行う受信アンテナとを電波暗室内に配設すると共に、前記送信アンテナに接続され周波数掃引が可能な送信源と、前記受信アンテナの光信号を電気信号に変換する光電気変換手段と、この光電気変換手段の出力により受信アンテナにおける電磁界強度を測定する測定手段とを前記電波暗室外に配設し、前記受信アンテナの出力と前記光電気変換手段の入力とを光ファイバで接続することを特徴とする電磁界に対する物体の影響の測定装置。
IPC (2件)：
前のページに戻る
