特許
J-GLOBAL ID:200903080844583450

層構造の推定方法、及び層構造の解析を行う解析装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 一色国際特許業務法人
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2005-162666
公開番号(公開出願番号):特開2006-337191
出願日: 2005年06月02日
公開日(公表日): 2006年12月14日
要約:
【課題】逆解析による解の精度を高め、層構造を高い精度で推定する。【解決手段】本発明の層構造の推定方法では、まず、地震観測点における水平成分及び上下成分の観測データに基づいて、水平/上下スペクトル比を算出する。次に、水平/上下スペクトル比の絶対値と位相とに基づく目標データを設定する。そして、地震観測点における層構造を未知数として、前記目標データに基づいて逆解析により前記未知数を求めて、地震観測点における層構造を推定する。【選択図】 図4
請求項(抜粋):
地震観測点における水平成分及び上下成分の観測データに基づいて、水平/上下スペクトル比を算出し、 水平/上下スペクトル比の絶対値と位相とに基づく目標データを設定し、 地震観測点における層構造を未知数として、前記目標データに基づいて逆解析により前記未知数を求めて、地震観測点における層構造を推定する ことを特徴とする層構造の推定方法。
IPC (2件):
G01V 1/00 ,  E02D 1/02
FI (2件):
G01V1/00 C ,  E02D1/02
Fターム (4件):
2D043AA00 ,  2D043AB08 ,  2D043AC01 ,  2D043BA00
引用特許:
出願人引用 (3件) 審査官引用 (3件)
引用文献:
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