特許
J-GLOBAL ID:200903080871402379

二次電池の検査方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 池内 寛幸 (外5名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-139250
公開番号(公開出願番号):特開2002-334722
出願日: 2001年05月09日
公開日(公表日): 2002年11月22日
要約:
【要約】【課題】 二次電池の検査方法において、短絡検査精度を安定化させると同時に過剰検査を抑制する。【解決手段】 第1の規格値(容量マスキング規格値)および第2の規格値(開路電圧マスキング規格値)をそれぞれ満たさない容量および開路電圧データを平均値および標準偏差の計算から外す(マスキングする)ことで、平均値および標準偏差を再計算して絞り込み、それらを第3の規格値(容量判定規格値)および第4の規格値(開路電圧規格値)にフィードバックして第3および第4の規格値を可変設定するとともに、第3、第4および第5の規格値(移動平均容量判定規格値)の少なくとも2つを満たさない二次電池に短絡不良有りと判定する。
請求項(抜粋):
電池パックとして組み立てられる複数個の二次電池を検査する方法であって、前記電池パック毎に、前記複数の二次電池の容量および開路電圧を測定して、容量データおよび開路電圧データを取得する工程と、前記取得した容量データおよび開路電圧データそれぞれについて、平均値および標準偏差を計算する工程と、前記取得した容量データについて、所定数の二次電池に対する移動平均容量を計算する工程と、前記計算した平均値からの容量データの偏差が、前記計算した標準偏差に基づく第1の規格値以上である場合、該当二次電池の容量データを除いて、容量データの平均値および標準偏差を再計算する工程と、前記計算した平均値からの開路電圧データの偏差が、前記計算した標準偏差に基づく第2の規格値以上である場合、該当二次電池の開路電圧データを除いて、開路電圧データの平均値および標準偏差を再計算する工程と、前記再計算した平均値からの容量データの偏差が、前記再計算した標準偏差に基づく第3の規格値以上である場合、前記再計算した平均値からの開路電圧データの偏差が、前記再計算した標準偏差に基づく第4の規格値以上である場合、および前記計算した移動平均容量からの容量データの偏差が、所定の第5の規格値以上である場合のうち少なくとも2つの条件を満たす場合、該当二次電池に短絡有りと判定する工程とを含むことを特徴とする二次電池の検査方法。
IPC (4件):
H01M 10/42 ,  G01R 31/36 ,  H01M 10/48 ,  H02J 7/00
FI (4件):
H01M 10/42 P ,  G01R 31/36 A ,  H01M 10/48 P ,  H02J 7/00 Q
Fターム (10件):
2G016CB05 ,  2G016CB11 ,  2G016CC04 ,  5G003BA02 ,  5G003EA05 ,  5G003EA06 ,  5G003EA09 ,  5H030AA09 ,  5H030AS06 ,  5H030FF41

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