特許
J-GLOBAL ID:200903080891118570

有機EL素子の製造方法および有機EL素子

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 石井 陽一
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平9-244766
公開番号(公開出願番号):特開平10-294176
出願日: 1997年08月26日
公開日(公表日): 1998年11月04日
要約:
【要約】【課題】 スパッタされた原子により素子構成膜へ物理的ダメージを与えることなく、膜物性の良好な電極を有し、薄膜表面の突起によるリーク電流の恐れもなく、陽電極とした場合にはアモルファス性が良好で、膜物性の良好な電極を有する有機EL素子およびその製造方法を提供する。【解決手段】 成膜ガス圧力と基板ターゲット間距離の積が20〜65Pa・cmであるスパッタ法にて電極を成膜する有機EL素子の製造方法にて有機EL素子を得る。
請求項(抜粋):
成膜ガス圧力と基板ターゲット間距離の積が20〜65Pa・cmであるスパッタ法にて電極を成膜する有機EL素子の製造方法。
IPC (4件):
H05B 33/10 ,  C23C 14/08 ,  C23C 14/34 ,  H05B 33/26
FI (4件):
H05B 33/10 ,  C23C 14/08 D ,  C23C 14/34 R ,  H05B 33/26
引用特許:
審査官引用 (1件)

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