特許

J-GLOBAL ID：200903080905400729

故障診断装置および故障診断方法

発明者： 長嶋 良和
出願人/特許権者： 矢崎総業株式会社
代理人 (1件)： 萩野 平 (外4名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-270736
公開番号（公開出願番号）：特開2001-095289
出願日： 1999年09月24日
公開日（公表日）： 2001年04月06日
要約：

【要約】【課題】 ワイパの異常を判断してワイパのロック状態を未然に防ぐと共に、ロック状態の判定をより確実に行うことができる故障診断装置を提供する。【解決手段】 制御信号に応じてスイッチング制御され電源からワイパモータ102への電力供給を制御するサーマルFETQAを備えた故障診断装置において、コンパレータCMP2は、ワイパモータ102に流れる負荷電流を所定のしきい値と比較する。周期カウンタ107は、コンパレータCMP2の経時的な比較結果からワイパモータ102の動作周期を検出し、周期判定回路108は、周期カウンタ107で検出された動作周期に基づきワイパ102の異常を判定する。そして、PWM制御部109は、周期判定回路108からの出力に基づきPWM制御信号152のディーティ比を変えるか、或いは、ワイパモータの駆動を停止する。

請求項（抜粋）：

制御信号に応じてスイッチング制御され電源から負荷への電力供給を制御するスイッチング手段を備えた故障診断装置において、前記負荷に流れる負荷電流を所定のしきい値と比較する比較手段と、前記比較手段の経時的な比較結果から前記負荷の動作周期を検出する周期検出手段と、前記周期検出手段で検出された動作周期に基づき前記負荷の異常を判定する判定手段と、を備えること特徴とする故障診断装置。

IPC (3件)：

H02P 7/00 ,  B60S 1/08 ,  G01M 17/007

FI (4件)：

H02P 7/00 P ,  H02P 7/00 C ,  B60S 1/08 Z ,  G01M 17/00 K

Fターム (25件)：

3D025AA01 ,  3D025AC01 ,  3D025AD02 ,  3D025AE02 ,  3D025AE57 ,  3D025AG77 ,  3D025AG79 ,  5H570AA21 ,  5H570BB03 ,  5H570BB09 ,  5H570CC04 ,  5H570DD06 ,  5H570HA08 ,  5H570HB12 ,  5H570HB16 ,  5H570JJ11 ,  5H570JJ12 ,  5H570JJ15 ,  5H570LL02 ,  5H570LL03 ,  5H570LL31 ,  5H570LL40 ,  5H570MM02 ,  5H570MM05 ,  5H570MM10