特許
J-GLOBAL ID：200903080924168225
表示装置の検査装置および検査方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
山本 秀策
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-140668
公開番号（公開出願番号）：特開平6-347813
出願日： 1993年06月11日
公開日（公表日）： 1994年12月22日
要約：
【要約】【目的】表示装置の表示検査および配線の短絡、断線、抵抗検査が簡略に、かつ、同一の装置で行える検査装置および検査方法を提供する。【構成】第1基板11表面上には検査配線3が複数本ずつブロックにまとめられ、第2基板は表示基板20の配線と同パターンの検査配線4を有し、第1基板11とは異方性導電膜5a、5bを間に挟んで接続される。同じような構成の第3、第4基板を有し、検査時には表示基板20の走査線端子23と第1、第2基板の組が接続され、信号線および対向電極端子は第3、第4基板の組と接続される。第1基板11および第3基板13上の検査接続端子にあらかじめ接続された駆動信号入力回路45から信号が入力されて表示検査が行われる。配線の短絡、断線、抵抗検査時は抵抗測定器47に電気的に切り替えて行われる。
請求項（抜粋）：
表示装置の検査装置であって、該検査装置は、対向配置される第1の基板と第2の基板とを有し、該第1の基板は、該第1の基板表面上に配設された複数本の第1の検査配線と、該第1の検査配線の奇数番目から所定の本数ずつ選んで形成された複数のブロックのそれぞれに含まれる該第1の検査配線が接続された第1の検査接続端子と、該第1の検査配線の偶数番目から所定の本数ずつ選んで形成された複数のブロックのそれぞれに含まれる該第1の検査配線が接続された第2の検査接続端子とを有し、該第2の基板は、該第1の基板との対向面上に、該第1の検査配線と同一ピッチで、かつ、該第1の検査配線と同数配設された第2の検査配線とを有し、各第1の検査配線と、該第1の検査配線に対応する該第2の検査配線とがそれぞれ接続されるように、該第1の基板と該第2の基板とが、間に導電膜を挟んで接続されているとともに、該検査接続端子から、該表示装置を表示するための駆動信号を入力する駆動信号入力回路と、各検査接続端子に接続されて、各検査接続端子間の抵抗を測定する抵抗測定手段と、該駆動信号入力回路と該抵抗測定手段とを切り替える回路切り替え手段とを有する、表示装置の検査装置。
IPC (2件)：
G02F 1/1343
, G02F 1/13 101
