特許
J-GLOBAL ID：200903080935398257
プリント基板検査装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
青木 輝夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-310215
公開番号（公開出願番号）：特開平9-189667
出願日： 1986年05月07日
公開日（公表日）： 1997年07月22日
要約：
【要約】【課題】 検査効率を高めると共に、各部品に対して最適な許容値を設定することができるプリント基板検査装置を提供する。【解決手段】 プリント基板10-1上の検査部位の基準データと、被検査プリント基板10-2から反射光を受光して得られる受光データに基づく測定データとを比較して被検査プリント基板10-2上の部品の実装状態を検査する場合、検査部位の比較の基準となる基準データを記憶している記憶手段としてのティーチングテーブル25と、被検査プリント基板10-2上の部品位置に基づき受光データから測定データを抽出する抽出ウインドウを設定するウインドウ設定手段としての制御部31、抽出ウインドウを部品位置の周辺情報により変更する変更手段としての制御部31とを備えている。
請求項（抜粋）：
プリント基板上の検査部位の基準データと、被検査プリント基板から反射光を受光して得られる受光データに基づく測定データとを比較して前記被検査プリント基板上の部品の実装状態を検査するプリント基板検査装置において、前記検査部位の比較の基準となる前記基準データを記憶している記憶手段と、前記被検査プリント基板上の部品位置に基づき前記受光データから前記測定データを抽出する抽出ウインドウを設定するウインドウ設定手段と、前記抽出ウインドウを前記部品位置の周辺情報により変更する変更手段と、を備えるプリント基板検査装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N 21/88 F
, H05K 13/08 U
