特許

J-GLOBAL ID：200903080952017330

電磁雑音測定装置

発明者： 荒井 賢一 ,  山口 正洋 ,  渡辺 光春
出願人/特許権者： 協同組合ジョイント・ラボ・仙台
代理人 (1件)： 千葉 剛宏 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-259437
公開番号（公開出願番号）：特開平10-104294
出願日： 1996年09月30日
公開日（公表日）： 1998年04月24日
要約：

【要約】【課題】広帯域でGHz帯をカバーでき、かつ正確な測定ができて電磁雑音発生源中の位置特定が可能な電磁雑音測定装置を提供する。【解決手段】誘電体基板の表面にほぼ1ターンのマイクロストリップ導体を形成し、前記誘電体基板の裏面に接地導体を形成し、かつマイクロストリップ導体の終端部分をチップ抵抗によって接地導体に電気的に接続して形成された複数のマイクロストリップコイル2ijが予め定められたピッチで配設されて一体に構成されたマイクロストリップコイルアレイ2を、被測定電磁雑音発生体にマイクロストリップ導体面を所定間隔隔てて対向させて、各マイクロストリップコイル2ijからの誘起電圧を測定する。

請求項（抜粋）：

誘電体基板の表面にほぼ1ターンのマイクロストリップ導体を形成し、前記誘電体基板の裏面に接地導体を形成し、かつマイクロストリップ導体の終端をチップ抵抗によって接地導体に電気的に接続して形成された複数のマイクロストリップコイルが予め定められたピッチで配設されて一体に構成されたマイクロストリップコイルアレイを、被測定電磁雑音発生体にマイクロストリップ導体面を所定間隔隔てて対向させて、各マイクロストリップコイルからの誘起電圧を測定することを特徴とする電磁雑音測定装置。

IPC (3件)：

G01R 29/08 ,  H01Q 13/08 ,  H01Q 21/06

FI (4件)：

G01R 29/08 F ,  G01R 29/08 D ,  H01Q 13/08 ,  H01Q 21/06