特許
J-GLOBAL ID:200903080953619309

システムデザインをテストする方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 三俣 弘文
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-086342
公開番号(公開出願番号):特開2000-315225
出願日: 2000年03月27日
公開日(公表日): 2000年11月14日
要約:
【要約】【課題】 システムデザインをテストする方法を提供する。【解決手段】 本発明のシステムデザインをテストする方法は、初期状態にあるシステムに対し目的状態を特定するステップと、前記システムが前記目的状態に到達することができないという仮定を決定するステップと、前記仮定を証明するあるいは前記仮定を否認するためのプロセスを実行するステップと、前記仮定が否認されたときに、前記システムが前記初期状態から、前記目的状態に移行するよう入力テストベクトルのシーケンスを出力するステップと、前記システムを前記目的状態に置くステップと、前記目的状態を前記システムの新たな初期状態に設定するステップと、前記ステップで仮定を証明したときに、前記方法のエラーによる終了を実行するステップとを有することを特徴とする。
請求項(抜粋):
(A)初期状態にあるシステムに対し目的状態を特定するステップと、(B) 前記システムが前記目的状態に到達することができないという仮定を決定するステップと、(C) 前記仮定を証明するあるいは前記仮定を否認するためのプロセスを実行するステップと、(D) 前記仮定が否認されたときに、(D1) 前記システムが前記初期状態から、前記目的状態に移行するよう入力テストベクトルのシーケンスを出力するステップと、(D2) 前記システムを前記目的状態に置くステップと、(D3) 前記目的状態を前記システムの新たな初期状態に設定するステップと、(D4) 前記(A)に戻るステップと、(E) 前記(C)ステップで仮定を証明したときに、前記方法のエラーによる終了を実行するステップとを有することを特徴とするシステムデザインをテストする方法。
IPC (2件):
G06F 17/50 ,  G01R 31/28
FI (3件):
G06F 15/60 670 K ,  G01R 31/28 F ,  G06F 15/60 664 Z

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