特許
J-GLOBAL ID：200903080983040666
永久磁石の減磁の評価方法、評価プログラム及び評価システム
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (5件)：
曾我 道照
, 曾我 道治
, 古川 秀利
, 鈴木 憲七
, 梶並 順
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-049453
公開番号（公開出願番号）：特開2004-257879
出願日： 2003年02月26日
公開日（公表日）： 2004年09月16日
要約：
【課題】従来の手法では、減磁率の経時変化を知ることはできないという課題があった。【解決手段】永久磁石の各部の減磁率または減磁量を評価ステップ毎の履歴を追うことによって導出し、前記導出された前記永久磁石の各部の減磁率または減磁量を前記永久磁石の磁気特性に反映する減磁評価手段2と、前記導出された前記永久磁石の各部の減磁率または減磁量に基いて電機機器の特性を評価する電機機器特性評価手段4を備えた。【効果】永久磁石において減磁が生じた場合の磁束密度分布を高精度に知ることができ、さらに磁束密度分布を高精度に知ることで永久磁石を具備した電気機器の特性を高精度に知ることができる。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
永久磁石の各部の減磁率または減磁量を評価ステップ毎の履歴を追うことによって導出するステップと、
前記導出された前記永久磁石の各部の減磁率または減磁量を前記永久磁石の磁気特性に反映するステップと
を含むことを特徴とする永久磁石の減磁の評価方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (9件)：
2G017AA07
, 2G017AB05
, 2G017BA16
, 2G017CA02
, 2G017CA04
, 2G017CA05
, 2G017CA08
, 2G017CB03
, 2G017CB18
