特許
J-GLOBAL ID:200903080983298833

隙間開口を測定して調整する方法と装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 江崎 光史 (外3名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-033120
公開番号(公開出願番号):特開平11-277120
出願日: 1999年02月10日
公開日(公表日): 1999年10月12日
要約:
【要約】【課題】 時間消費や作業経費を少なくして隙間開口を絶えず高精度で測定し、調整し、それにより製品や製造工程を改良できる方法と装置を提供する。【解決手段】 光源の光線を隙間開口に通し、これにより明暗限界を発生させ、隙間開口の大きさ、形状あるいは位置を測定して調整するため、前記明暗限界を使用し、二つまたはそれ以上の円筒体あるいはローラで形成される隙間開口を測定して調整する方法および装置にあって、隙間開口11の明暗限界をCCDカメラ14で撮影し、デジタル化し、この形で実際値としてコンピュータ16に導入し、前記コンピュータ16により、大きさ、形状および位置に関してこれ等の実際の明暗限界を目標値として予め与えられた明暗限界と比較し、場合によって存在するずれを求め、このずれを排除するために修正値を出力する。
請求項(抜粋):
光源の光線を隙間開口に通し、これにより明暗限界を発生させ、隙間開口の大きさ、形状あるいは位置を測定して調整するため、前記明暗限界を使用し、二つまたはそれ以上の円筒体あるいはローラで形成される隙間開口を測定して調整する方法において、隙間開口(11)の明暗限界をCCDカメラ(14)で撮影し、デジタル化し、その形で実際値としてコンピュータ(16)に導入し、前記コンピュータ(16)により、大きさ、形状および位置に関してこれ等の実際の明暗限界を目標値として予め与えられた明暗限界と比較し、場合によって存在する偏差を求め、この偏差を排除するために修正値を出力することを特徴とする方法。
IPC (5件):
B21B 37/00 ,  B21B 37/00 BBH ,  B21C 51/00 ,  G01B 11/14 ,  G01B 21/16
FI (5件):
B21B 37/00 113 Z ,  B21C 51/00 M ,  G01B 11/14 H ,  G01B 21/16 ,  B21B 37/00 BBH

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