特許
J-GLOBAL ID：200903081000504365

LSIの故障箇所推定方法及びLSIの故障箇所推定プログラムを記録した記録媒体

発明者：
加藤 公訓

加藤 公訓 について


出願人/特許権者：
富士通株式会社

富士通株式会社 について

, 
富士通ヴィエルエスアイ株式会社

富士通ヴィエルエスアイ株式会社 について


代理人 (1件)： 井桁 貞一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-212267
公開番号（公開出願番号）：特開平11-052023
出願日： 1997年08月06日
公開日（公表日）： 1999年02月26日
要約：
【要約】【課題】本発明は、LSIの故障シミュレーションの処理時間の高速化を図ると共に故障可能性のある故障候補を的確に推定し多重故障の可能性をも知らしめることを目的とする。【解決手段】故障シミュレーション中に、シミュレーション結果である各故障候補に対する出力信号値とテスタ出力結果の比較を行い、その比較結果により故障候補をシミュレーション対象から除外し、またその比較結果により各故障候補の故障可能性の確からしさを出力する構成とした。
請求項（抜粋）：
論理回路データを入力し、故障候補データを出力する故障抽出工程と、前記論理回路データ、前記故障候補データ、信号データ及び前記論理回路データに対するテスタ出力データを入力して、故障候補毎に故障シミュレーションを行うシミュレーション工程と、前記シミュレーション工程から出力される故障候補毎の外部出力値と前記テスタ出力データとを比較する工程と、を有するLSIの故障箇所推定方法。
IPC (2件)：
G01R 31/28 ,  G06F 17/50
FI (2件)：
G01R 31/28 F ,  G06F 15/60 672 D
引用特許：
審査官引用 (3件)
引用文献：
審査官引用 (1件)

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