電子透かし検出処理装置、および電子透かし検出処理方法、並びにプログラム

発明者： , , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：山田英治 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-210576
公開番号（公開出願番号）：特開2003-032469
出願日： 2001年07月11日
公開日（公表日）： 2003年01月31日
要約：

【要約】【課題】ビット情報の埋め込み、検出を行なう電子透かし埋め込み、検出処理構成において、標準化処理による情報検出を実行する構成を提供する。【解決手段】複数の電子透かしの差分検出によってビット情報取得を行なう構成とし、検出値をそのまま統計量として用いるのではなく、複数の電子透かしの検出値の平均の差を利用することにより、検出値の標準化して得られる統計量を利用して、電子透かしの埋め込みの有無や埋め込まれているときのビット情報を判別する。標準化処理において利用する統計量を、自由度が定まればその分布が一意に定まるt統計量を用いる構成としたので、電子透かし検出におけるfalse positiveやfalse negativeの確率を所望の値に近づけることが容易になる。

請求項（抜粋）：

電子透かしパターン検出処理を実行する電子透かし検出処理装置であり、電子透かしパターン検出処理対象である入力画像に対して、複数の電子透かしパターン各々の検出処理を実行し、各電子透かしパターン各々についての複数の検出値を取得する電子透かしパターン検出値取得手段と、前記電子透かしパターン検出値取得手段の取得した各パターン個々の複数の検出値に基づいて、各電子透かしパターンの検出値差分の標準化処理を実行し、該標準化処理の結果として算出される標準化値を取得する標準化処理手段と、前記標準化処理手段において取得した標準化値と閾値との比較処理に基づいて埋め込み電子透かし情報を取得する電子透かし埋め込みパターン判定手段と、を有することを特徴とする電子透かし検出処理装置。

IPC (5件)：

H04N 1/387 , G06T 1/00 500 , H04N 1/40 , H04N 7/08 , H04N 7/081

FI (4件)：

H04N 1/387 , G06T 1/00 500 B , H04N 7/08 Z , H04N 1/40 Z

Fターム (24件)：

5B057CA12 , 5B057CA16 , 5B057CB12 , 5B057CB16 , 5B057CC01 , 5B057CE08 , 5B057CH08 , 5C063AB05 , 5C063CA23 , 5C063CA29 , 5C063CA36 , 5C063DA07 , 5C063DA13 , 5C063DB09 , 5C076AA14 , 5C076BA06 , 5C077LL14 , 5C077NP01 , 5C077PP23 , 5C077PP43 , 5C077PP47 , 5C077PQ19 , 5C077PQ20 , 5C077TT06

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