特許

J-GLOBAL ID：200903081019858877

電子部品の検査装置

発明者： 小嶋 純一
出願人/特許権者： 株式会社東芝
代理人 (1件)： 佐藤 強
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-290162
公開番号（公開出願番号）：特開平10-135693
出願日： 1996年10月31日
公開日（公表日）： 1998年05月22日
要約：

【要約】【課題】 BGA部品のハンダボールの欠落を検出する。【解決手段】 カウント用コンベア37によりBGA部品21を矢印A方向に搬送する。BGA部品21が所定位置まで移動する同期用センサ56がBGA部品21の先頭端を検出し、その時点から反射型光電センサ61がBGA部品21の移動に同期して検出動作を間欠的に行う。このとき、反射型光電センサ61の受光素子61bが発光素子61aからの反射光を受けなければハンダボール21aが欠落しているとして不良品と判断する。不良品はストッパ59が下降することにより、カウント用コンベア37から廃棄ケース62に排出される。

請求項（抜粋）：

部品供給部から電子部品を取り出して送り手段に搬送する第1の搬送手段と、前記送り手段による送り途中にある電子部品のリード個数を検出する検出手段と、この検出手段により検出されたリードが所定数に満たないとき、これを排出する排出手段と、前記検出手段により検出されたリードが所定数のとき、その電子部品を次工程に送る第2の搬送手段とを具備してなる電子部品の検査装置。