特許
J-GLOBAL ID：200903081131743039
単数励磁コイル方式による多重周波数渦流探傷法及び装置
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
杉信 興
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-237996
公開番号（公開出願番号）：特開平9-080028
出願日： 1995年09月18日
公開日（公表日）： 1997年03月28日
要約：
【要約】【課題】 疵検出精度の向上。疵種それぞれの検出精度の向上。【解決手段】 探傷コイルを用いる鋼材の渦流探傷において、鋼材(17)が貫通する単一の励磁コイル(16)に高周波f1の電流と低周波f2の電流を重畳して通電し、検出コイル(18)に誘起するf1の電圧の、励磁コイル(16)f1成分電圧に対して第1の位相ずれ(θ1)がある第1成分を抽出し、この第1成分より、それをベクトルで表わす場合の直交2成分(x,y)および長さ(v)を算出してそれが設定値以上のとき疵と検出し、かつ、検出コイル(18)に誘起するf2の電圧の、励磁コイル(16)f2成分電圧に対して第2の位相ずれ(θ2)がある第2成分を抽出し、この第2成分より、それをベクトルで表わす場合の直交2成分(x,y)および長さ(v)を算出してそれが設定値以上のとき疵と検出する。
請求項（抜粋）：
励磁コイルおよび検出コイルを含む探傷コイルを用いる鋼材の渦流探傷において、鋼材が貫通する単一の励磁コイルに高周波f1の電流と低周波f2の電流を重畳して通電し、検出コイルに誘起する前記高周波f1の電圧の、前記励磁コイルの高周波f1の電流に対して第1の位相ずれがある第1成分を抽出し、この第1成分より、それをベクトルで表わす場合の直交2成分および長さの少くとも一者を算出してそれが設定値以上のとき疵と検出し、かつ、前記検出コイルに誘起する前記低周波f2の電圧の、前記励磁コイルの低周波f2の電流に対して第2の位相ずれがある第2成分を抽出し、この第2成分より、それをベクトルで表わす場合の直交2成分および長さの少くとも一者を算出してそれが設定値以上のとき疵と検出する、単数励磁コイル方式による多重周波数渦流探傷法。
引用特許：
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