はんだ印刷検査装置

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：川口光男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-086019
公開番号（公開出願番号）：特開2002-286430
出願日： 2001年03月23日
公開日（公表日）： 2002年10月03日
要約：

【要約】【課題】多岐にわたるデータ処理を要することなく正確なはんだ検査領域を確保した上で、正確な検査を行うことのできるはんだ印刷検査装置を提供する。【解決手段】はんだ印刷検査装置1は、プリント基板Kの表面に対し斜め上方から正弦波状の複数の位相変化する光パターンを照射するための照明装置3と、プリント基板K上の前記照射された部分を撮像するためのCCDカメラ4とを備える。三次元計測装置制御部7では位相シフト法により高さデータが求められる。検査枠設定部8では、見本基板に基づいてはんだ検査枠が設定され、該検査枠につき、はんだ印刷検査部9ではプリント基板K上に設けられたクリームはんだCの印刷状態が検査される。検査枠設定部8は見本基板KMについて三次元計測を行うことで各画素単位毎の高さ情報を求め、その高さ情報に基づいて、はんだが形成された部分を抽出し、さらにその抽出データに基づいて検査枠を設定する。

請求項（抜粋）：

見本基板に基づいてはんだ検査対象領域情報を設定する設定手段と、前記設定されたはんだ検査対象領域情報に基づく検査対象領域に関し、基板上に設けられたはんだの印刷状態を検査する検査手段とを備えたはんだ印刷検査装置であって、前記設定手段は、前記見本基板について所定単位毎に三次元計測を行うことで各単位毎の高さ情報を求め、その高さ情報に基づいて、はんだが形成された部分を抽出し、さらにその抽出データに基づいてはんだ検査対象領域情報を設定するものであることを特徴とするはんだ印刷検査装置。

IPC (7件)：

G01B 11/24 , B23K 1/00 , B23K 3/06 , B41F 15/08 303 , B41F 15/14 , G01N 21/956 , H05K 3/34 512

FI (7件)：

B23K 1/00 A , B23K 3/06 V , B41F 15/08 303 E , B41F 15/14 C , G01N 21/956 B , H05K 3/34 512 B , G01B 11/24 A

Fターム (56件)：

2C035AA06 , 2C035FA27 , 2F065AA24 , 2F065AA61 , 2F065BB13 , 2F065BB24 , 2F065CC26 , 2F065DD04 , 2F065FF05 , 2F065FF06 , 2F065FF07 , 2F065FF61 , 2F065GG12 , 2F065HH04 , 2F065HH12 , 2F065JJ09 , 2F065JJ19 , 2F065KK02 , 2F065LL02 , 2F065MM02 , 2F065NN05 , 2F065PP03 , 2F065PP12 , 2F065QQ21 , 2F065QQ24 , 2F065QQ25 , 2F065QQ29 , 2F065QQ43 , 2F065RR05 , 2F065SS01 , 2F065SS04 , 2F065TT02 , 2G051AA65 , 2G051AB11 , 2G051AC04 , 2G051AC12 , 2G051AC21 , 2G051BB17 , 2G051BB20 , 2G051BC03 , 2G051CA03 , 2G051CB01 , 2G051DA07 , 2G051EA11 , 2G051EA12 , 2G051EA14 , 2G051EB01 , 2G051ED07 , 5E319AA03 , 5E319AC01 , 5E319BB05 , 5E319CC22 , 5E319CD26 , 5E319CD53 , 5E319GG03 , 5E319GG15

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