特許
J-GLOBAL ID：200903081148201876
導電性材料の損傷診断方法及び診断装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
社本 一夫 (外6名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-057270
公開番号（公開出願番号）：特開2003-254943
出願日： 2002年03月04日
公開日（公表日）： 2003年09月10日
要約：
【要約】【課題】 超音波を用いて導電性材料の積層構造体の損傷評価を非破壊で行う方法及び装置。【解決手段】本発明の診断方法は、不導電性界面33、35を介して重ねられた導電性材料32、34の積層構造体34に対し非接触状態に電磁超音波探触子20を配置する工程、電磁超音波探触子20により超音波を積層構造体の一方の側面31から送信する工程、積層構造体の他方の側面により反射される超音波を受信する工程、及び受信された超音波の音速又は減衰に基き積層構造体の損傷状態を診断する工程を含む。
請求項（抜粋）：
不導電性界面を介して重ねられた導電性材料の積層構造体の損傷状態を診断する方法であって、積層構造体に対し非接触状態に電磁超音波探触子を配置する工程、前記電磁超音波探触子により不導電性界面を通過可能な超音波を前記積層構造体の一方の側面から送信する工程、前記電磁超音波探触子により積層構造体の他方の側面により反射される超音波を受信する工程、及び受信された超音波の音速及び減衰の変化に基いて前記積層構造体の損傷状態を診断する工程、を含む方法。
IPC (2件)：
G01N 29/04 504
, G01N 29/12
G01N 29/04 504
, G01N 29/12
2G047AA06
, 2G047AB05
, 2G047AC07
, 2G047BA04
, 2G047BC03
, 2G047BC04
, 2G047BC07
, 2G047BC11
, 2G047EA11
, 2G047GC01
