特許

J-GLOBAL ID：200903081186142093

測距装置

発明者： 谷口 英則
出願人/特許権者： キヤノン株式会社
代理人 (1件)： 中村 稔
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-296168
公開番号（公開出願番号）：特開2001-116981
出願日： 1999年10月19日
公開日（公表日）： 2001年04月27日
要約：

【要約】【課題】 測距手段の実測値と理論値とのずれを算出する為の測距データの測定数を極力減らして調整時間を短くすると共に、少ない測定数の測距データを基に理論値に近い測距データを補正演算により求める。【解決手段】 対象物に光を投射しその反射光を受光することで、対象物までの距離に応じた測距データを測定する測距手段と、該測距手段にて得られる測距データの補正を行う為の補正データを調整工程において予め記憶しているメモリ手段と、前記測距手段にて得られた測距データと前記メモリ手段に記憶された補正データとを基に、2次以上の高次の補間式を用いて補間演算(太い点線で示す15の二次曲線補間演算)を行って最終的な測距データを算出する演算手段とを有する。

請求項（抜粋）：

対象物までの距離に応じた測距データを測定する測距手段と、該測距手段にて得られる測距データの補正を行う為の補正データを調整工程において予め記憶している記憶手段と、前記測距手段にて得られた測距データと前記記憶手段に記憶された補正データとを基に、2次以上の高次の補間式を用いて補間演算を行って最終的な測距データを算出する演算手段とを有することを特徴とする測距装置。

IPC (4件)：

G02B 7/28 ,  G01C 3/06 ,  G02B 7/32 ,  G03B 13/36

FI (4件)：

G01C 3/06 A ,  G02B 7/11 N ,  G02B 7/11 B ,  G03B 3/00 A

Fターム (18件)：

2F112AA06 ,  2F112BA05 ,  2F112CA02 ,  2F112CA12 ,  2F112DA21 ,  2F112DA26 ,  2F112FA03 ,  2F112FA07 ,  2F112FA21 ,  2F112FA23 ,  2H011AA01 ,  2H011BA14 ,  2H011BB06 ,  2H011DA06 ,  2H051BB20 ,  2H051CA17 ,  2H051CE20 ,  2H051GB12