特許
J-GLOBAL ID：200903081328835717
測定装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小川 勝男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-270846
公開番号（公開出願番号）：特開平11-108653
出願日： 1997年10月03日
公開日（公表日）： 1999年04月23日
要約：
【要約】【課題】従来の高精度三次元座標測定機によれば、高精度な測定は出来るが、この方法では、加工機上での測定が出来ない。加工機上で、測定出来ないと、高精度加工が出来ない。【解決手段】差動トランスからなる部品を移動させる移動機構が停止した状態で該差動トランスにより該加工部品の被測定面と該測定子との接触量の増減を計測して、部品の歯底径を測定することにより、解決出来る。
請求項（抜粋）：
一定の軸直角断面形状を持って軸方向にねじれた形状の部品の歯底径の加工機上での測定において、該部品の加工機のワークテーブル又はワークコラム上に装着された本体と、この本体の一構成部品で該加工部品の軸方向に対し直角方向に移動可能に設けられ、該加工部品の測定面を接触してスキャニングする測定子を先端に持った差動トランスからなる部品と、この部品を移動させる移動機構と、この部品の移動量を読み取る高精度スケールからなり、前記差動トランスの出力信号がこの差動トランスの測定範囲の中央位置に相当する値に一致した時に、前記移動機構を停止させる制御手段と、前記差動トランスの出力信号が予め設定した条件値になった時に差動トランスからなる部品を該加工部品から遠ざける方向に移動させる制御手段を含み、移動機構が停止した状態で該差動トランスにより該加工部品の被測定面と該測定子との接触量の増減を計測して、部品の歯底径を測定することを特徴とする測定装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
前のページに戻る
