腐食環境モニタリング装置

発明者： , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：小川勝男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-249744
公開番号（公開出願番号）：特開平10-090165
出願日： 1996年09月20日
公開日（公表日）： 1998年04月10日
要約：

【要約】【課題】X線マイクロアナライザを用いるため、その場で測定ができない上にコストが高い。さらに、環境測定の対象機器で多数箇所で測定する場合、分析に時間がかかる上に、コストが高い。また、対象機器の測定箇所の真近で測定するにあたり、装置内に設置する場合、従来のモニタリング装置ではサイズが大きく設置場所に制限がある。【解決手段】透明な基板上に膜厚を連続的または段階的に変化させて形成した金属薄膜からなる腐食モニタリング装置1で、被測定環境中に測定箇所の直近に所定期間に渡り放置した後に、透明基板2を通して金属薄膜3を観察し、金属と腐食生成物との色が違うことを利用して、金属薄膜3上に生成した腐食生成物の厚さを測定する。

請求項（抜粋）：

透明基板上に膜厚を段階的または連続的に変化させて形成した金属薄膜からなる腐食環境モニタリング装置において、被測定環境中に測定箇所の直近に所定期間に渡り放置した後に、前記透明基板を通して前記金属薄膜を観察し、金属と腐食生成物との色が違うことを利用して、前記金属薄膜上に生成した前記腐食生成物の厚さを求めることを特徴とする腐食環境モニタリング装置。

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