特許

J-GLOBAL ID：200903081353368848

線量測定用の信号処理装置及び線量測定装置

発明者： 臼杵 辰己 ,  佐藤 公悦
出願人/特許権者： トーレック株式会社
代理人 (1件)： 黒田 壽
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-299293
公開番号（公開出願番号）：特開2000-131442
出願日： 1998年10月21日
公開日（公表日）： 2000年05月12日
要約：

【要約】【課題】 X線センサの検出信号に応じて増幅度を切り換えるという煩雑な作業を行うことなく、短時間照射の高線量率X線の線量及び長時間照射の低線量率X線の線量の両者を精度よく測定することができる線量測定用の信号処理装置及び線量測定装置を提供する。【解決手段】 X線センサ10と、該センサ10から出力される検出信号のうち短時間照射の高線量率放射線の検出信号に対して積分処理を行い、長時間照射の低線量率放射線の検出信号に対して増幅処理を行う信号処理回路20と、該信号処理回路20の出力信号の積分値を算出する積分値算出回路30とを設ける。

請求項（抜粋）：

放射線を検出する検出器から出力される検出信号を処理する線量測定用の信号処理装置であって、該検出器から出力される検出信号のうち短時間照射の高線量率放射線の検出信号に対して積分処理を行い、長時間照射の低線量率放射線の検出信号に対して増幅処理を行う信号処理回路を備えたことを特徴とする線量測定用の信号処理装置。

IPC (2件)：

G01T 1/17 ,  G01T 1/29

FI (2件)：

G01T 1/17 F ,  G01T 1/29 B

Fターム (5件)：

2G088EE30 ,  2G088FF02 ,  2G088GG01 ,  2G088KK05 ,  2G088KK06