特許
J-GLOBAL ID：200903081365934571

不正侵入分析装置

発明者：
石井 良和

石井 良和 について

, 
高木 太郎

高木 太郎 について

, 
中井 耕治

中井 耕治 について


出願人/特許権者：
株式会社日立製作所

株式会社日立製作所 について


代理人 (3件)： 小川 勝男 ,  田中 恭助 ,  佐々木 孝
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-199012
公開番号（公開出願番号）：特開2005-038116
出願日： 2003年07月18日
公開日（公表日）： 2005年02月10日
要約：
【課題】侵入検知装置からの大量のログ出力を集約し監視や分析を容易にするシステムを提供する。【解決手段】侵入検知装置106の出力を、イベントグループ化手段111により、イベントログを構成する各項目の値に基づいて分離し、イベント頻度計算手段112により、それらの頻度の時系列データを求める。イベント相関計算手段113では複数の時系列の線形和の2次以上のモーメントが最大になるような係数と線形和の時系列を求め、これを脅威分析支援手段115や、アクション分析手段116により集約イベント表示手段117に表示する。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
ネットワーク上の異常なアクセスをロギングした侵入検知装置の出力するイベントログを分析する不正侵入分析装置において、 前記イベントログを構成する複数の項目に対し、前記項目の値の組合せにより前記イベントログをグループ化して区別するイベントグループ化手段を設けることを特徴とする不正侵入分析装置。
IPC (1件)：
G06F15/00
FI (2件)：
G06F15/00 320A ,  G06F15/00 330A
Fターム (2件)：
5B085AC11 ,  5B085AE00
引用特許：
審査官引用 (4件)
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引用文献：
審査官引用 (3件)

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