特許

J-GLOBAL ID：200903081396243585

ひずみ測定モジュール及び多点ひずみ測定システム

発明者： 小澤 卓郎
出願人/特許権者： 株式会社東京測器研究所
代理人 (1件)： 佐藤 辰彦 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-248392
公開番号（公開出願番号）：特開平11-083420
出願日： 1997年09月12日
公開日（公表日）： 1999年03月26日
要約：

【要約】【課題】接続線による測定精度や測定の安定性等への悪影響を排除して、精度のよいひずみ測定を安定して行うことを可能とし、さらには、ひずみ測定に際しての準備作業や測定データの処理の容易化を図ることができるひずみ測定モジュールを提供する。【解決手段】少なくともひずみゲージ1により物体のひずみ量に応じた測定信号Δeを生成させるための測定信号生成用回路12と、測定信号Δeをデジタルデータに変換するA/D変換器11と、測定信号Δeのデジタルデータから所定の処理を経て生成してなるデジタルデータを測定出力データとして外部に出力するデータ出力処理手段16とを一体的にモジュール化してなるモジュール本体部2をひずみゲージ1の近傍で接続する。

請求項（抜粋）：

物体に貼着されるひずみゲージと、少なくとも該ひずみゲージにより前記物体のひずみ量に応じた測定信号を生成させるための測定信号生成用回路と、該測定信号をデジタルデータに変換するA/D変換手段と、該測定信号のデジタルデータ、又は、該デジタルデータから所定の処理を経て生成してなるデジタルデータを測定出力データとして外部に出力するデータ出力処理手段とを一体的にモジュール化してなるモジュール本体部とを有し、該モジュール本体部を前記ひずみゲージにその近傍で接続してなることを特徴とするひずみ測定モジュール。

IPC (4件)：

G01B 7/16 ,  G01B 21/32 ,  G01D 7/00 ,  G01L 1/00

FI (4件)：

G01B 7/18 B ,  G01B 21/32 ,  G01D 7/00 E ,  G01L 1/00 D

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 特開昭60-039521
  
• 多点同時計測システム
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-353734   出願人：株式会社光研, 株式会社ビーエムシー