特許

J-GLOBAL ID：200903081435847566

電磁波発生源探査装置

発明者： 上坂 晃一 ,  須賀 卓
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (1件)： 作田 康夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-084749
公開番号（公開出願番号）：特開2003-279611
出願日： 2002年03月26日
公開日（公表日）： 2003年10月02日
要約：

【要約】【課題】 電磁波発生源の探査精度を向上させる。【解決手段】 3次元筐体近傍の磁界分布を測定する磁界プローブと、x方向、y方向、z方向、θ方向およびφ方向にプローブを移動させる手段と、磁界分布から電流分布を求める手段と、電流分布から所望の距離における電界強度を求める手段を備えさせる。

請求項（抜粋）：

3次元筐体近傍の磁界分布を測定する磁界プローブと、x、y、z、θおよびφ方向にプローブを移動又は回転させる手段と、磁界分布から電流分布を求める手段と、電流分布から所望の距離における電界強度を求める手段と、を有することを特徴とする電磁波発生源探査装置。

IPC (3件)：

G01R 29/08 ,  G01R 29/10 ,  G01R 33/10

FI (3件)：

G01R 29/08 D ,  G01R 29/10 E ,  G01R 33/10

Fターム (4件)：

2G017AA01 ,  2G017AC06 ,  2G017AC08 ,  2G017BA16