小粒子の特性測定方法及び装置

発明者： , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：石川泰男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-310987
公開番号（公開出願番号）：特開平10-227737
出願日： 1997年10月07日
公開日（公表日）： 1998年08月25日
要約：

【要約】 (修正有)【解決手段】高強度光源9は検知領域13に光を提供し、検知領域の小粒子と接触させて結果光を生じさせ、その結果光は、散乱光及び白熱に至るまで光吸収性粒子を加熱することによる放射光を含み、その結果光は、光吸収性粒子の気化が生じると停止する。内部に検知領域を有するレーザキャビティを備えるレーザは好ましくは、検知領域で小粒子と接触するためのレーザキャビティ内に高強度光を提供する。【効果】光学的検出を使用して、光吸収性粒子の粒子サイズ及び組成を含む所定の粒子特性の測定が可能となる。

請求項（抜粋）：

小粒子の特性測定装置において、少なくも一部が光吸収性粒子である小粒子を有し得る検知領域と、小粒子と接触するように前記検知領域に光を提供し、前記光吸収性粒子の白熱により放射される光を含む結果光を生じさせる高強度光源と、各々が前記結果光を受光し、前記結果光の所定部分に基づいて出力を提供する複数の光検出ユニットと、を備え、前記複数の光検出ユニットの出力は小粒子の所定の粒子特性の測定を可能とする装置。

IPC (7件)：

G01N 15/14 , G01B 11/00 , G01B 11/02 , G01J 1/04 , G01J 5/60 , G01N 21/49 , G01N 25/00

FI (7件)：

G01N 15/14 P , G01B 11/00 A , G01B 11/02 Z , G01J 1/04 K , G01J 5/60 Z , G01N 21/49 Z , G01N 25/00 Z

引用特許：

審査官引用 (6件)

特公平6-105249
特公平6-058318
特公平6-105249

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引用文献：

審査官引用 (4件)

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