X線-光変換部材用鮮鋭度測定方法及び該装置

発明者： ,
出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-205754
公開番号（公開出願番号）：特開平9-054198
出願日： 1995年08月11日
公開日（公表日）： 1997年02月25日
要約：

【要約】【目的】構造が簡単で、組み立て調整が容易で、さらに測定対象物のセットが容易なX線-光変換部材の鮮鋭度を測定できるX線-光変換部材用鮮鋭度測定方法を提供する。【構成】 X線を照射してX線像を光像に変換する変換部材の鮮鋭度(MTF)を測定する測定方法において、X線源によりX線をスリット部材越しに前記変換部材に照射して、前記X線-光変換部材の発光像を光ファイバを通してCCD撮像素子で読み取り、読み取った信号をフーリエ変換して鮮鋭度を求めることを特徴とするX線-光変換部材用鮮鋭度測定方法である。

請求項（抜粋）：

X線を照射してX線像を光像に変換する変換部材の鮮鋭度(MTF)を測定する測定方法において、X線源によりX線をスリット部材越しに前記変換部材に照射して、前記X線-光変換部材の発光像を光ファイバを通してCCD撮像素子で読み取り、読み取った信号をフーリエ変換して鮮鋭度を求めることを特徴とするX線-光変換部材用鮮鋭度測定方法。

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