特許

J-GLOBAL ID：200903081449579548

疑似ランダム バウンダリースキャン検査方法及び装置

発明者： ウーディアン ケー
出願人/特許権者： ルーセント テクノロジーズ インコーポレーテッド
代理人 (1件)： 岡部 正夫 (外9名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-336195
公開番号（公開出願番号）：特開平9-189749
出願日： 1996年12月17日
公開日（公表日）： 1997年07月22日
要約：

【要約】【課題】 検査時間を短縮可能な疑似ランダム検査方法を提供する。【解決手段】 システム(10)内の相互接続部の疑似ランダム バウンダリースキャン検査は、まず疑似ランダムパターンを発生し、次いで、信号矛盾を引き起こし得る各パターン内の値を修正するために前記パターンをシステムに印加する前にフィルタにかけることによって達成される。また、システムへの印加によりシステムで発生する各応答は、応答による非決定論的値をマスクするためにフィルタにかけられる。フィルタにかけられた応答は、システム内の故障を検出するために、無故障状態を表わす1組のサインと比較される。

請求項（抜粋）：

直列接続されたバウンダリースキャンセルの少なくとも1つのチェーンを有するシステムのバウンダリースキャン検査方法であって、前記バウンダリースキャンセルの数に対応する複数の値を含む疑似ランダム検査パターンを発生する工程と、前記バウンダリースキャンセルのチェーンへの前記パターンの印加による信号矛盾を生じ得る値を修正するために、前記疑似ランダム検査パターンをフィルタにかける工程と、対応するバウンダリースキャン中に各値をシフトさせて前記セル中に前にシフトされた値をシフトアウトさせることにより、前記バウンダリースキャンセルのチェーンに前記疑似ランダム検査パターンを印加する工程と、決定論的でない値をマスクするために前記シフトアウトされた値をフィルタにかける工程と、フィルタにかけられたシフトアウト値を無故障状態を表わす1組の基準値と比較する工程とからなることを特徴とするバウンダリスキャン検査方法。

IPC (3件)：

G01R 31/28 ,  G06F 11/22 310 ,  G06F 11/22 360

FI (3件)：

G01R 31/28 G ,  G06F 11/22 310 C ,  G06F 11/22 360 P