特許

J-GLOBAL ID：200903081477038005

X線画像診断装置

発明者： 池田 重之 ,  菅野 修二 ,  中村 正
出願人/特許権者： 株式会社日立メディコ
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-117810
公開番号（公開出願番号）：特開2004-321346
出願日： 2003年04月23日
公開日（公表日）： 2004年11月18日
要約：

【課題】リアルタイムに変化する残像の減衰特性を対応した残像補正処理が可能なX線画像診断装置を提供する。【解決手段】被検者1にX線を照射するX線源3と、X線源3と被検者1を挟んで対向配置され被検者1の透過X線をX線画像として検出するX線平面検出器4と、X線平面検出器4により検出されたX線画像を画像処理する画像処理部8と、画像処理部8により画像処理されたX線画像を表示するモニタ9とを備え、画像処理部8に組み込まれた残像補正処理部は、複数のX線透視又はX線撮影の各モードに応じたX線平面検出器4の残像の減衰情報を記憶する減衰テーブル12と、減衰テーブル12に記憶されたX線平面検出器4の残像の減衰情報に基づき経時的に減衰される残像の補正演算を行う演算部13とを具備する。【選択図】 図2

請求項（抜粋）：

被検者にX線を照射するX線発生部と、このX線発生部と前記被検者を挟んで対向配置され前記被検者の透過X線をX線画像として検出するX線平面検出器と、このX線平面検出器により検出されたX線画像を表示する表示装置とを備えたX線診断装置において、複数のX線透視又はX線撮影の各モードに応じた前記X線平面検出器の残像の減衰情報を記憶する手段と、この記憶手段に記憶された前記X線平面検出器の残像の減衰情報に基づき経時的に減衰される残像の補正演算を行う手段とを備えたことを特徴するX線画像診断装置。

IPC (2件)：

A61B6/00 ,  H04N5/225

FI (2件)：

A61B6/00 300S ,  H04N5/225 Z

Fターム (24件)：

4C093AA01 ,  4C093AA07 ,  4C093AA16 ,  4C093CA13 ,  4C093EB12 ,  4C093EB13 ,  4C093EB17 ,  4C093EC04 ,  4C093EC16 ,  4C093FA34 ,  4C093FA52 ,  4C093FC17 ,  4C093FC18 ,  4C093FD03 ,  4C093FD12 ,  4C093FD13 ,  4C093FF13 ,  4C093FF34 ,  4C093FF36 ,  4C093FH02 ,  5C022AA08 ,  5C022AA15 ,  5C022AC41 ,  5C022AC69

引用特許：

審査官引用 (2件)

• X線画像形成方法及びX線画像形成システム
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-356215   出願人：コニカ株式会社
• X線撮影装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2001-204106   出願人：株式会社日立メディコ