特許

J-GLOBAL ID：200903081568704598

光電変換特性の測定方法およびその装置

発明者： 松山 深照
出願人/特許権者： キヤノン株式会社
代理人 (1件)： 大塚 康徳 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-193641
公開番号（公開出願番号）：特開2002-111029
出願日： 2001年06月26日
公開日（公表日）： 2002年04月12日
要約：

【要約】【課題】 積層型の太陽電池の光電変換特性の測定に適したマルチソース法は、測定対象の太陽電池の受光面積が研究室レベルの極小面積に限られ、400cm2を超えるような面積をもつセル、モジュールまたはアレイを測定することは困難である。【解決手段】 照射される光の放射照度を測定または調整し(S1)、基準セルの電流電圧特性を測定し(S2)、サンプルセルの電流電圧特性を測定する(S3)。次に、基準セルの基準状態における電流電圧特性と、基準セルの電流電圧特性の測定結果とを比較することによって、照射光の基準状態からのずれに基づく測定結果の基準状態からのずれを得る(S4)。得られた測定結果のずれに基づき、サンプルセルの電流電圧特性の測定結果を補正し(S5)、サンプルセルの光電変換特性を求める(S6)。

請求項（抜粋）：

測定物に加える電圧を変化させて、前記測定物の電流電圧特性を測定することで、前記測定物の光電変換特性を測定する測定方法であって、基準状態において、前記測定物と略同等の構成を有する基準物の電流電圧特性を取得し、光照射下で、前記測定物および基準物の電流電圧特性を測定し、前記測定物および基準物の電流電圧特性の測定結果、並びに、前記基準状態における前記基準物の電流電圧特性に基づき、前記測定物の光電変換特性を算出することを特徴とする測定方法。

IPC (3件)：

H01L 31/04 ,  G01R 31/26 ,  H01L 31/10

FI (3件)：

G01R 31/26 F ,  H01L 31/04 K ,  H01L 31/10 Z

Fターム (18件)：

2G003AA06 ,  2G003AB00 ,  2G003AB01 ,  2G003AH01 ,  2G003AH02 ,  5F049MA02 ,  5F049MB07 ,  5F049NA08 ,  5F049NA18 ,  5F049NA20 ,  5F049UA20 ,  5F051AA05 ,  5F051BA12 ,  5F051DA04 ,  5F051DA15 ,  5F051GA02 ,  5F051KA09 ,  5F051KA10