特許
J-GLOBAL ID：200903081575400286
物品検査装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小池 晃 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-205834
公開番号（公開出願番号）：特開平10-048148
出願日： 1996年08月05日
公開日（公表日）： 1998年02月20日
要約：
【要約】【課題】 物品検査装置の信頼性の向上を図る。【解決手段】 光学検出手段を用いて非接触にて物品の表面状態を検査する物品検査装置1において、物品の表面状態を検査する複数の検査機4a、4bと、各検査機4の検査結果が入力される解析手段7と、この解析手段7による判別結果を表示する表示手段8と、物品を複数ピッチにより搬送する搬送手段6とを備える。この解析手段6は、複数の検査機4による検査結果を比較することにより検査機差を検出し、各検査機4の検査能力を判断する。
請求項（抜粋）：
光学検出手段を用いて非接触にて物品の表面状態を検査する物品検査装置において、物品の表面状態を検査する複数の検査機と、上記各検査機の検査結果が入力される解析手段と、上記解析手段による判別結果を表示する表示手段と、上記物品を搬送して、異なるピッチに振り分ける搬送手段とを備え、上記解析手段は、複数の検査機による検査結果を比較することにより個々の検査機の検出差を検出し、上記各検査機の検査能力を判断することを特徴とする物品検査装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
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