特許
J-GLOBAL ID:200903081605318563
分子の実効サイズ決定法、基板への分子の付着方法および分子検出デバイス
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (2件):
土井 健二
, 林 恒徳
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2004-238980
公開番号(公開出願番号):特開2006-058094
出願日: 2004年08月19日
公開日(公表日): 2006年03月02日
要約:
【課題】 固体表面に付着する分子の付着密度をコントロールでき、このことにより、固体表面に付着した分子の溶液中での構造や挙動を明らかにでき、また、固体表面に付着した分子を用いるデバイスの高信頼性化や高感度化を実現できる技術を提供する。【解決手段】 電荷を有する分子を基板に付着させるに際し、その分子を含んだ溶液に電解質を共存させ、電解質によるスクリーニング効果を調整すること、および、溶液中の分子の実効サイズを考慮することにより、分子の付着密度をコントロールする。電解質と電荷を有する分子とを含む溶液中の電荷を有する分子の実効サイズを、電解質によるスクリーニング効果から推定することもできる。【選択図】 図7
請求項(抜粋):
電解質と電荷を有する分子とを含む溶液中の当該電荷を有する分子の実効サイズを、当該電解質によるスクリーニング効果から推定する、電荷を有する分子の実効サイズ決定法。
IPC (3件):
G01N 33/53
, C12M 1/00
, G01N 37/00
FI (3件):
G01N33/53 M
, C12M1/00 A
, G01N37/00 102
Fターム (5件):
4B029AA07
, 4B029AA23
, 4B029BB20
, 4B029CC03
, 4B029FA15
引用特許:
審査官引用 (1件)
-
微粒子薄膜の製造方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平5-216663
出願人:新技術事業団, 永山国昭
引用文献:
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