特許

J-GLOBAL ID：200903081630709674

X線検査装置

発明者： 柏 義広
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所 ,  日立多賀エンジニアリング株式会社
代理人 (1件)： 小川 勝男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-204722
公開番号（公開出願番号）：特開2000-039406
出願日： 1998年07月21日
公開日（公表日）： 2000年02月08日
要約：

【要約】【課題】本発明の目的は、X線検査装置において構成部品をユニット化することで、別種類の構成部品の交換が容易に行える構造を提供する。【解決手段】X線検査装置において、X線発生手段,検出手段,画像処理手段,表示手段,制御手段などの構成部品および、X線検査装置から周囲への漏洩X線量を抑えるために取付ける防護部品とを、用途に応じた部品構成でユニット化して別種類の構成部品の交換が容易にできるという効果がある。

請求項（抜粋）：

X線を被検査物に向けて照射するX線発生手段と、被検査物内の検出物のX線透過データを検出する検出手段と、検出手段より得られたX線透過データの合否を自動判定する画像処理手段と、合否の判定結果を表示する表示手段と、これらを統合制御する制御手段とを備え、X線発生手段と検出手段は、被検査物を挟んで対向させて、被検査物内の検出物を検出できる位置に配置したX線検査装置において、X線発生手段,検出手段,画像処理手段,表示手段,制御手段などの構成部品および、X線検査装置から周囲への漏洩X線量を抑えるために取付ける防護部品とを、用途に応じた部品構成でユニット化したことを特徴とするX線検査装置。

IPC (3件)：

G01N 23/04 ,  G01N 23/18 ,  G01V 5/12

FI (3件)：

G01N 23/04 ,  G01N 23/18 ,  G01V 5/12

Fターム (12件)：

2G001AA01 ,  2G001BA11 ,  2G001CA01 ,  2G001DA08 ,  2G001FA06 ,  2G001HA12 ,  2G001HA13 ,  2G001LA10 ,  2G001NA17 ,  2G001NA19 ,  2G001NA20 ,  2G001PA11