特許
J-GLOBAL ID：200903081704965325
検査部品振分け方法及びその装置並びに部品検査装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小谷 悦司 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-217279
公開番号（公開出願番号）：特開2002-028578
出願日： 2000年07月18日
公開日（公表日）： 2002年01月29日
要約：
【要約】【課題】 高速画像処理による判定結果に追従して検査部品を正確に判定し得る検査部品振分け装置及び部品検査装置を提供する。【解決手段】 吸引ノズル7によって吸引される検査済みのチップ部品1を、ステッピングモータ15によって回転するように構成されている円盤状回転体12に円形に配列された収容孔内に順次貯留し、この円盤状回転体12の収容孔の回転移動経路に沿って設けた良品排出口、不良品排出口を、画像処理による検査結果に応じて選択的に作動させることにより、良品、不良品を振り分けることを特徴とする。
請求項（抜粋）：
検査済み部品を収容するための多数の収容孔が円形に配列されている円盤状回転体を断続的に回転させながら、検査処理から送出される検査済み部品をその収容孔内に順次吸引して貯留していき、貯留されたその検査済み部品を、検査処理判定時間以後に上記収容孔の移動経路先に設けた良品排出口及び不良品排出口から選択的に吸引し排出することを特徴とする検査部品振分け方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (8件)：
3F079AD06
, 3F079BA06
, 3F079CA23
, 3F079CA41
, 3F079CB29
, 3F079CC01
, 3F079DA04
, 3F079EA12
