特許

J-GLOBAL ID：200903081786231235

レーザー分光分析装置及び分析方法

発明者： 董 杰 ,  増崎 宏 ,  生方 映徳 ,  石原 良夫
出願人/特許権者： 日本酸素株式会社
代理人 (1件)： 木戸 一彦 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-342597
公開番号（公開出願番号）：特開2001-159605
出願日： 1999年12月01日
公開日（公表日）： 2001年06月12日
要約：

【要約】【課題】 レーザー分光法の利点を生かしながら、複数成分の濃度分析を容易にかつ確実に行うことができるレーザー分光分析装置及び分析方法を提供する。【解決手段】 レーザー分光分析装置におけるレーザー光の発振源として、波長帯域が異なる複数の単一波長発振用半導体レーザー光源を設けるとともに、各半導体レーザー光源から照射するレーザー光の波長を所定範囲でスキャンさせる制御器を設ける。

請求項（抜粋）：

ガス中の成分濃度をレーザー光の吸収スペクトルにより分析するレーザー分光分析装置において、前記レーザー光の発振源として、波長帯域が異なる複数の単一波長発振用半導体レーザー光源を設けるとともに、各半導体レーザー光源から照射するレーザー光の波長を所定範囲でスキャンさせる制御器を設けたことを特徴とするレーザー分光分析装置。

IPC (3件)：

G01N 21/39 ,  G01N 21/01 ,  G01N 21/35

FI (3件)：

G01N 21/39 ,  G01N 21/01 D ,  G01N 21/35 Z

Fターム (14件)：

2G059AA01 ,  2G059BB01 ,  2G059CC09 ,  2G059DD12 ,  2G059EE01 ,  2G059EE09 ,  2G059EE11 ,  2G059EE12 ,  2G059GG01 ,  2G059GG02 ,  2G059JJ11 ,  2G059LL01 ,  2G059MM09 ,  2G059MM10