特許

J-GLOBAL ID：200903081787227797

磁化探傷方法および装置

発明者： 藤 崎 敬 介
出願人/特許権者： 新日本製鐵株式会社
代理人 (1件)： 杉信 興
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-184771
公開番号（公開出願番号）：特開平10-030994
出願日： 1996年07月15日
公開日（公表日）： 1998年02月03日
要約：

【要約】【課題】 被検材をア-スから電気的に分離する必要のない軸通電法による磁化探傷方法の提供。連続的に送られる長尺もしくは実質上無端の被検材を連続的に磁化探傷する。【解決手段】 磁性体の検査対象材(1)を励磁して該検査対象材(1)の疵部に漏れ磁束を生起する磁化探傷方法において、該検査対象材(1)の励磁装置(2)の前後を電気的接続状態とする。

請求項（抜粋）：

磁性体の検査対象材を励磁して該検査対象材の疵部に漏れ磁束を生起する磁化探傷方法において、該検査対象材の励磁装置の前後を電気的接続状態としていることを特徴とする磁化探傷方法。

IPC (3件)：

G01N 21/91 ,  G01N 27/83 ,  G01N 27/84

FI (3件)：

G01N 21/91 B ,  G01N 27/83 ,  G01N 27/84

引用特許：

出願人引用 (3件)

• 特開平1-316654
  
• 導電体の疵検出装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-242947   出願人：新日本製鐵株式会社
• 特公昭50-036796
  

審査官引用 (3件)

• 特開平1-316654
  
• 導電体の疵検出装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-242947   出願人：新日本製鐵株式会社
• 特公昭50-036796