LED点走査システム

発明者： , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：深見久郎 (外3名)
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-534068
公開番号（公開出願番号）：特表平10-504916
出願日： 1996年04月09日
公開日（公表日）： 1998年05月12日
要約：

【要約】ターゲットサンプル(10)を刺激し、かつターゲットサンプル(10)からの蛍光および反射信号放射を読取るためのLED点像走査器が開示される。LED光源(12)は走査ヘッド(20)に取付けられ、かつ空間フィルタ(30)のピンホール開口(15)の中に焦点合わせされ、その後視準され、前記サンプル(10)上のスポット(17)に焦点合わせされる。照明経路にある空間フィルタまたはそれに相当する機能を果たす光ファイバは非干渉LED光を有効に集中させて、点光源を生み出す。サンプルからの信号放射は走査ヘッド(20)を通して集光され、かつ反射光ビームは視準され、検出手段(40)の受光部分上に焦点合わせされる。反射ビームの経路にある空間フィルタ(22)も用いられてもよい。検出手段(40)は、走査ヘッドに直接取付けられる小さな検出器か、または離れて位置づけられた静止検出器に点像を送る光ファイバの端部かのいずれかである。走査ヘッドはサンプルに対する1つまたは2つの軸に沿って移動して、サンプルのターゲット区域を走査する。

請求項（抜粋）：

サンプルを点走査するためのLED光学システムであって、 (a) 可動走査ヘッドを含み、前記可動走査ヘッドは、 (i) 単一経路に沿って照明ビームを提供するLED光源と、 (ii) 前記光源から間隔をあけられたピンホール開口を有する照明空間フィルタと、 (iii) 前記照明ビームを前記ピンホール開口の中に焦点合わせするための手段と、 (iv) 前記照明ビームが前記ピンホール開口の中に焦点合わせされた後に前記照明ビームを前記サンプルのスポット上に方向づけて、信号放射を前記サンプルから反射させるための手段と、 (v) 前記サンプルから反射した信号放射を集光し、かつ検出するための手段とを有し、さらに前記LED光学システムは、 (b) 前記サンプルを支えるためのステージと、 (c) 前記ステージに対する第1の軸に沿って前記走査ヘッドを移動して、前記サンプル上の走査ラインに沿って複数のスポットを照明するための手段とを含む、システム。

IPC (5件)：

G02B 26/10 , G01J 1/04 , G01N 21/01 , G01N 21/47 , G01N 21/64

FI (5件)：

G02B 26/10 G , G01J 1/04 D , G01N 21/01 D , G01N 21/47 Z , G01N 21/64 Z

引用特許：

審査官引用 (15件)

特開平4-000409
偏光測定装置及びこれを用いた偏光顕微鏡
公報種別：公開公報出願番号：特願平4-131471 出願人：河田聡, 株式会社コーガク
特表平4-500129

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