特許
J-GLOBAL ID：200903081820391913
測距装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
長谷川 芳樹 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-143062
公開番号（公開出願番号）：特開平8-334325
出願日： 1995年06月09日
公開日（公表日）： 1996年12月17日
要約：
【要約】【目的】 より信頼性の高い測距結果を得る。【構成】 アクティブ測距部Aとパッシブ測距部Pとの双方で、それぞれ測距を実施し、測距値選択回路40では、両測距値の差が許容値Dよりも小である場合には、アクティブ測距部Aの測距結果を選択し、大である場合にはパッシブ測距部Pの測距結果を選択する。
請求項（抜粋）：
被写体に向けて測距光を投光し、その反射光の集光位置に基づき、この被写体までの距離を計測するアクティブ方式の第1測距手段と、前記被写体で反射される自然光を2系統の光学系で受光し、この各光学系で得られた2つの光学像に基づき、前記被写体までの距離を計測するパッシブ方式の第2測距手段と、前記第1測距手段及び第2測距手段から得られる測距結果のうち、いずれか一方の測距結果を選択し出力する測距値選択手段とを備えており、前記測距値選択手段は、前記第1測距手段と前記第2測距手段との測距値の差が、所定の許容値よりも小である場合に前記第1測距手段の測距値を選択し、大である場合に第2測距手段の測距値を選択する第1手段を備える測距装置。
IPC (3件)：
G01C 3/06
, G02B 7/32
, G03B 13/36
G01C 3/06 A
, G01C 3/06 P
, G02B 7/11 B
, G03B 3/00 A
