光ディスクの検査方法と検査装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：佐藤隆久
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-077205
公開番号（公開出願番号）：特開平7-286967
出願日： 1994年04月15日
公開日（公表日）： 1995年10月31日
要約：

【要約】【目的】種類の異なる種々の欠陥であっても検出精度を高める。【構成】光ディスクDの読取面に検査光を照射して当該検査光の反射光を受光センサにより検出することにより前記光ディスクに欠陥が存在するか否かを検査する光ディスクの検査方法において、前記反射光のうちの0次反射光と1次反射光の反射光量をそれぞれ受光センサ8,9で検出し、それぞれに設定されたしきい値により欠陥の有無を判断する。

請求項（抜粋）：

光ディスクの読取面に検査光を照射して当該検査光の反射光を受光センサにより検出することにより前記光ディスクに欠陥が存在するか否かを検査する光ディスクの検査方法において、前記反射光のうちの0次反射光と1次反射光の反射光量をそれぞれ受光センサで検出し、それぞれに設定されたしきい値により欠陥の有無を判断することを特徴とする光ディスクの検査方法。

IPC (3件)：

G01N 21/88 , G01M 11/00 , G11B 7/26

引用特許：

審査官引用 (3件)

特開昭59-092452
特開平2-123538
特開昭59-073710

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